材料分析實驗室儀器設備の研究院 - 採購/儀器應用/研究分析/實例示範/性能規格比較

英國LINKAM CSS 450 顯微鏡流變儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Thu, 09 Mar 2017 08:39:00 +0000

英國LINKAM CSS 450 顯微鏡流變儀

可安裝於穿透、反射顯微鏡、拉曼、SAXS等光學儀器上使用
將樣品置於兩片光學鏡片間，利用鏡片的旋轉觀察樣品的剪切變化
可精準控制溫度、旋轉的速度、鏡片間距
可設定三種旋轉量測方式：oscillatory, step, steady
適用複雜流體微結構研究，如二元流體粗化、粗化、高分子聚合研究、液晶缺陷動力學研究、血球細胞凝集研究等

英國LINKAM LTS 450 顯微鏡流變儀

溫度範圍：-50 ~ 450℃（室溫以下需選購液態氮冷卻系統）
升降溫速率：0.01 ~ 30 k/min
樣品面積：∅30mm
量測間距：5 ~ 2500um
剪切率：0.003 ~ 7500/s
溫度穩定度：<0.2℃

應用資料

影片介紹

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德國NETZSCH 奈米鍍層熱傳量測儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Wed, 08 Mar 2017 08:36:00 +0000

德國NETZSCH 奈米鍍層熱傳量測儀

日本產業技術綜合研究所開發，採用高速雷射量測，最薄可量測至10nm鍍層，為奈米鍍層熱擴散最佳分析利器

採用皮、奈秒雷射thermoreflectance量測原理，突破雷射閃光法熱擴散量測限制

傳統閃光法使用IR偵測器，無法記錄足夠微小及快速的溫度變化訊號，因而無法量測太薄的樣品。thermoreflectance法則使用奈秒或皮秒雷射進行量測，雷射在樣品表面反射後，會隨樣品表面溫度變化而改變反射的強度，因而可用來快速記錄樣品表面極小與極快的溫度變化

內建兩種量測模式，可依底材特性選擇

RF法：與laser flash閃光法量測方式相同，適於透光底材的鍍層量測。RF法為由底材端施以一脈衝雷射對鍍層加熱，並從鍍層端以奈秒或皮秒雷射測量鍍層表面的溫度變化
FF法：適於不透光底材鍍層測量。由鍍層表面施以一脈衝雷射加熱，並對同一位置以奈秒或皮秒雷射量測鍍層表面的溫度變化

NanoTR 奈秒雷射熱擴散量測儀

1. 適用鍍層厚度
RF法

金屬鍍層：1 ~ 20um
陶瓷鍍層：300nm ~ 5um
有機材鍍層：30nm ~ 2um

FF法

鍍層厚度需大於1um

2. 量測時間：小於60秒
3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，總厚度需小於1mm

PicoTR皮秒雷射熱擴散量測儀

1. 適用鍍層厚度
RF法

金屬鍍層：100 ~ 900nm
陶瓷鍍層：10nm ~ 300nm
有機材鍍層：10nm ~ 100nm

FF法

鍍層厚度需大於100nm

2. 量測時間：小於5分鐘
3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，總厚度需小於1mm

量測原理論文

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日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Tue, 07 Mar 2017 08:31:00 +0000

日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀

日本HORIBA micro-XRF能在不破壞樣品下，以10µm微聚焦X光束掃描樣品，獲取掃描面積內的元素成分與含量訊號及對X光穿透強度的訊號，並可以不同的顏色呈現掃描面積內元素分布圖與X光穿透影像。

專利10µm X光聚焦導管

可將X光聚焦至10µm，針對微小的區域測量元素，並可在元素面積掃描時提供最佳的成像解析度

100X放大CCD鏡頭

可透過電腦螢幕直接觀看，確認測量位置。並可直接點選要檢測的位置，樣品會自動移動至定位

大樣品室，樣品不需裁切破壞

真空設計，感度最佳

450 x 500 x 80mm大樣品室空間，下潛式艙門，樣品擺放容易。

樣品室可抽真空，提高偵測感度。若需測量粉體或液體，也可獨立抽光學室真空，避免樣品室污染

Smart元素掃描成像

同步X光穿透影像

XGT-7200V可設定範圍進行掃描，掃描完成後可呈現各元素的分布圖，並可計算掃描面積內各元素的含量

可於元素面積掃描成像時，同步成像X光穿透影像，輔助分析研究

SDD高感度偵測器

友善導引操作介面

採用新一代高感度SDD偵測器，大幅提升偵測感度，免液態氮

智慧導引操作介面，操作容易

日本HORIBA XGT-7200V µXRF元素掃描成像儀規格：元素範圍：Na ~ U
X光聚焦尺寸：𝟇10、100µm(可軟體切換）
最大掃描面積：10 x 10 cm
樣品室尺寸：450 x 500 x 80 mm

產品詳細介紹網頁

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奈米級熱膨脹分析儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 03 Mar 2017 09:49:00 +0000

德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀

德國NETZSCH熱分析第一品牌推出世界第一台採用奈米級光學莫列波紋位移偵測器，能提供全範圍高解析度長度變化偵測，薄片樣品亦可精準測量

最強性能無與倫比

位移偵測解析度最高0.1nm（依機種而定），可檢測極小之長度變化量
樣品初始長度自動偵測，降低誤差
接觸力可數位程控，並可偵測實際施力大小，避免摩擦力影響
提供-180 ~ 2000℃多種溫度範圍爐體
可同時搭載兩種爐體
可抽真空、通氣氛
可升級雙桿偵測，同時量測兩個樣品
自動調整樣品位置，取得最佳量測狀態

NanoEye 奈米級光學位移偵測器

傳統熱膨脹量測設備採用LVDT位移偵測器，因設計上的限制，樣品長度與標準品長度差異在20%以內才能維持較佳的偵測精度，太長或太短的樣品變會產生較大的誤差，所以在樣品製備上有很大的限制。而部分產品採用傳統光學感測器則有解析度不高的缺點，無法提供高精度的測量。NETZSCH DIL 402 Expedis系列採用最新Moiré Pattern位移感測器，全測量範圍均可提供最高解析度，不受樣品與標準品長度差異影響，解析度依機種最高可達0.1nm，一次解決薄片、低膨脹率樣品不易量測的問題。
最高3N的數位施力控制，並具有施力感測器，可即時監控並控制實際施力大小。傳統熱膨脹設備僅透過彈簧調整施力，無法確實得知每個樣品的受力是否相同，容易造成測量誤差。NETZSCH DIL 402 Expedis的自動施力控制設計，亦可抵銷樣品與載台間的摩擦力，量測樣品真正的膨脹收縮率。
施力可程控，高階機種具多種施力模式，可模擬DMA分析

提供多種溫度範圍爐體

提供-180 ~500℃、-150 ~ 1000℃、RT~1150℃、RT~1600℃、RT~2000℃不同溫度段爐體選擇，使用者可依預算及應用選擇適合之爐體
可同時安裝兩個爐體，擴展溫度範圍或可增快測量速度

真空及氣氛控制

真空爐體設計，依搭配之真空幫浦最高可至10^-4mbar
內建一組MFC質量流量控制器，最多可擴充為3組

樣品位置自動調整及初始長度自動測量

獨特的樣品位置自動調整功能，在擺放樣品後，推桿會自動推擠樣品，調整至最佳量測位置，避免因樣品擺放不良影響測試
放置樣品後，可自動記錄樣品初始長度，確保量測之初始長度為啟始溫度下之長度值，避免膨脹率計算產生誤差
熱電偶可調整測量位置，確實控制樣品溫度

偵測室熱盾系統

熱盾系統可使偵測室保持恆溫，避免環境或爐體溫度擾動造成測量誤差

彩色資訊顯示，遠端APP監測

儀器具有彩色屏幕，可顯示儀器狀態
可下載手機APP，進行遠端監測，不需守候在儀器旁即可即時得知儀器狀態，並設有遠端異常通知及緊急停止功能

影片說明

*詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

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紫外光可見光光譜儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Thu, 02 Mar 2017 04:52:00 +0000

紫外光可見光分光光度計

PG Instruments

英國品牌，專業生產紫外光可見光分光光度計、原子吸收光譜儀、氣相層析儀、質譜儀、高效液相層析儀、原子螢光光譜儀、火焰光譜儀和淨水器等設備。

總代理商全拓科技

豐富機型可供選擇

T60U/T60V

大學部教學，簡單測定吸光值
Split Ratio Beam設計，單光束
波寬: 2nm
波長範圍 T60U: 190~1100nm，T60V: 325~1100nm
配備8槽式自動切換樣本座
T60U可選購多種程式卡，單機即可執行多波長測量、全波長掃描、時間掃描、檢量線定量及DNA/Protein分析

T70/T70+

大學部教學，基礎實驗室
Split Ratio Beam設計，單光束
單機可執行吸光值、全波長掃描、檢量線定量、時間掃描及DNA/Protein分析
波長範圍: 190~1100nm
波寬 T70: 2nm，T70+: 波寬可調，0.5、1、2、5nm
標配8槽式自動切換樣本槽座

T80/T80+

化學分析實驗室，檢驗、研發
Dual Beam設計，雙光束
單機可執行吸光值、全波長掃描、檢量線定量、時間掃描及DNA/Protein分析
波長範圍: 190~1100nm
波寬 T80: 2nm，T80+: 波寬可調，0.5、1、2、5nm
標配8槽式自動切換樣本槽座

T92+

化學分析實驗室，材料分析，檢驗，研發
True Double Beam真正雙光束設計，波寬為連續可調式(0.1~5.0nm，0.1nm step)
波長範圍：190~900nm，光電倍增管偵檢器
附件模組化，多種附件可供選擇，可接積分球及反射式附件等
插座式燈源設計，更換燈源免校調
全電腦操作，軟體符合GLP及21CFR part 11規範

C30/C30M

精巧可攜帶型多功能水質分析專用分光光譜儀
Windows CE 操作系統，觸控式彩色螢幕
CCD偵檢器，波長範圍380~800nm
單機可執行吸光值、全波長掃描、定量及時間掃描分析並列印結果
C30M內建Merck Spectroquant®系列水質快速分析試劑分析方法
內建充電電池，可在野外使用
隨機標配客製化攜行箱、10~50mm光徑樣本槽、試管用樣本槽等附件
可擴充GPS定位、GPRS無限數據傳輸、光纖樣本槽等附件

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S+H德製頂級高階全自動旋光度計

noreply@blogger.com (Anonymous) — Wed, 22 Feb 2017 10:58:00 +0000

S+H 德國工藝，精準、穩定、領先科技

Schmidt+Haensch GmbH&Co. 來自德國，創立於1864年，是擁有150年輝煌歷史的知名光電設備製造商。目前在世界200多個國家和地區均設有分公司、辦事處或代理商。作為市場領導者，S+H是第一家生產數位式高階折射計的儀器商。此外，S+H也生產各種用於實驗室的高階光學設備。如今，S+H的自動旋光度計、折射計、糖度計及密度計已經行銷全球並獲得使用者一致讚賞。

全自動旋光光度計 UinPol L Series

特點

解析度及精準度符合歐洲及美國藥典。
全自動數位式，圓形補償設計。
單機操作、連接印表機輸出數據、網路連線等功能。
可顯示使用者編輯程式。
可顯示樣本的OD(Optical density)值。
自動多次量測數據並計算平均。
自動生成樣本ID編號。
可編輯反應動力學程式測量變旋反應。
可校正溫度感應器。
使用者可編輯數據列印格式。
可連線PC操作。
符合GLP/GMP文件及列印格式。
可選配支援21 CFR Part 11軟體。
IQ/OQ/PQ文件為標準配件。

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02-8227-3526
新北市中和區中正路716號13樓之3

德國NETZSCH STA 449 F5同步熱分析儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Sat, 18 Feb 2017 04:24:00 +0000

德國NETZSCH STA 449 F5同步熱分析儀

德國NETZSCH的STA 449 F5 熱重、熱示差同步熱分析儀，憑藉著140年的專業經驗所開發高規格熱分析設備，滿足您實驗的需求。

影片介紹

上置式天平

上置式設計便於樣品擺放及保持天平穩定

自動浮力校正

可依使用的氣氛、氣體流量、升降溫速率等自動修正浮力影響，不需跑空白基線

1600度高溫爐體

採用高品質爐體及高階溫控系統，可確保樣品溫度達1600度

全自動氣氛控制

內建有MFC質量流量控制器及自動真空系統，可進行全自動的氣氛控制

大載量高解析天平

35g載重及量測範圍，全段0.1ug高解析天平，再微小的熱重變化也可輕易檢出

可串連氣體分析

可與FTIR、GC-MS、MS串連，進行尾氣成分分析

德國NETZSCH STA 449 F5 1600℃熱重、熱示差掃描分析儀

(圖中auto sampler 為選購品）

規格：

溫度範圍：室溫 ~ 1600度（樣品可實際達到1600度）
升溫速率：0.001 ~ 50 K/min
量測參數：TG、DSC、Cp (選購)
最大載重量及秤重範圍：35g
天平解析度：0.1ug

全拓科技有限公司 NETZSCH 20年專業代理
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研究級抗腐蝕 NETZSCH 德國耐馳 TG-209 F1 熱重分析儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Thu, 16 Feb 2017 07:56:00 +0000

研究級抗腐蝕熱重分析儀

陶瓷抗腐蝕爐體，可保護加熱線圈不受樣品污染
10^-2 mbar高真空爐體，可避免空氣影響測試並可利用真空改樣品成分揮發溫度，提高各階熱重損失分辨率
樣品溫度最高可至1100℃，量測範圍廣
水冷爐體，升溫速率可達200 K/min
具Beflat浮力自動校正功能，可依升降溫溫度、控溫速率、使用的氣體種類及流量、使用的坩堝尺寸自動校正浮力，不需執行空白校正
上置式天平設計，樣品擺放容易，樣品支架不會晃動
放置樣品時樣品支架可自動與天平分離，避免損傷
高性能熱重天平，量測範圍可達+/- 2g
直接於樣品坩堝底部量測樣品溫度，可精準記錄反應溫度。熱電偶具抗腐蝕設計，可避免樣品污染
搭載AutoEvaluation功能，可一鍵自動分析曲線
搭載Identity功能，可自動資料庫比對樣品可能成分
可選購192組樣品自動進樣機械臂進行自動測量
可串連至FTIR、MS、GC-MS進行尾器分析
使用標準金屬熔點進行溫度校正，操作容易

NETZSCH 德國耐馳 TG-209 F1 熱重分析儀影片介紹

AutoEvaluation 與Identiy自動分析功能

影片介紹

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德製【S+H】高精度折射計

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 10 Feb 2017 04:35:00 +0000

Schmidt+Haensch GmbH&Co.是來自德國，擁有150年輝煌歷史的知名光電設備製造商。創立於1864年，目前在世界200多個國家和地區均設有分公司、辦事處或代理商。作為市場領導者，Schmidt+Haensch是第一家生產數位式高階折射計的儀器商。此外，Schmidt+Haensch也生產各種用於實驗室的高階光學設備。如今，S+H的自動旋光度計、折射計、糖度計及密度計已經行銷全球並獲得使用者一致讚賞。

超高精度及高再現性折射計 ATR B/F Touch

應用：

測定折射率
定量乾物重
測定質量百分比
糖度
標準值分析(糖度、蔗糖濃度、果糖濃度、葡萄糖濃度、脂肪含量、蜂蜜含水量、抗動液濃度等)
樣本定性(香水、精油)
樣本定量(水或溶劑溶液)
粒徑分析樣本折射率測量
膠體材料

測量範圍：全自動連續式測量。

ATR-B:1.29000~1.58000 RI
ATR-F:1.32000~1.70000 RI

內建晶片式溫控器，+5~+100℃。
長壽命、低耗能LED燈源。
可編輯1000組分析方法。
可擴充7吋彩色觸控螢幕，免連電腦分析。

依照實驗需求另有多種不同機型桌上型折射計可供選擇，您可以先確認下列條件，來電或回信詢問，我們會推薦您最適合的機型

樣本類型(液體、固體、薄膜等)
折射率測定範圍(1.29000~1.70000)
折射率精度要求
樣本是否需要控溫
欲測量參數(折射率、糖度、定量、定性及色散等)

選配附件

L-顯示器

7吋、彩色觸控螢幕。
內建主機操作軟體。
可依客戶需求建立分析方法。
顯示所有測量參數。
可自訂顯示欲顯示項目。
可連接糖度計或密度計分析樣本純度。

樣本槽蓋

可連續進樣分析。
拆卸更換非常容易。
不鏽鋼材質，抗腐蝕。
樣本量約 80 μl。

標準品

多種不同折射率標準品可供選擇。
PTB認證證書。

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隔熱材、保溫材高精度熱傳導量測儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Thu, 09 Feb 2017 04:30:00 +0000

隔熱材、保溫材高精度熱傳導量測儀

最高精度量測，準確度可達1%，重複性可達0.25%
可單機操作及列印，可不接電腦
具高精度樣品厚度、傾斜角度量測系統及6組樣品表面溫度量測，可降低不均勻樣品影響
可設定上下板與樣品接觸施力，模擬不同壓力下熱傳變化
連接電腦可量測樣品比熱Cp ( J/g℃ ）
可選購熱傳量測範圍擴充套件，最高可量至2W/mK
符合ASTM C518, ASTM C1784, ISO 8301, JIS A1412, DIN EN 12664, DIN EN 12667等各種規範
適於各種隔熱材、保溫材、建材、紡織材料、高分子材料量測

德國NETZSCH HFM 446 高精度熱傳導量測儀

溫度範圍：-20 ~ 90℃，可設定10組量測溫度
樣品尺寸：max. 203 x 203 x 51 mm
熱傳導量測範圍：0.002 ~ 1W/mK (可擴充至2W/mK)
熱阻量測範圍：0.1 ~ 8 m^2K/W (可擴充至0.05 m^2K/W)
量測精度：
- 準確度：1%
- 重複性：0.25%
- 再現性：0.5%
上下板施力範圍：最高850N，具施力偵測器可精準控制
厚度量測：具四點自動厚度測量及雙軸傾斜角度測量
操作方式：可單機操作或連接電腦操作，連接電腦可量測樣品Cp及儲存測量結果，並可製作ASTM等級專業報表

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型錄實驗室設備儀器之採購/應用/研究/分析/實例/示範/性能/規格

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》型錄下載

綜合型錄 (多家廠牌/設備)
☄【食品、生技、製藥】研究分析檢驗儀器設備_中文-全拓科技	2015/09/04
☄【實驗室基礎】研究分析檢驗儀器設備_中文拓科技	2015/09/04
☄【材料】研究分析檢驗儀器設備_中文-全拓科技	2015/09/04
水質＆環境科學＆實驗室設備
☄【攪拌器 STIRRER】電磁加熱/電磁攪拌/直流攪拌/試管振盪/均質_中文	2016/04/01
☄【多參數水質檢測】 pH/ORP/ION/COND/RESI/SALT/TDS/DO_中文	2016/04/01
食品＆生命科學＆實驗室設備
☄【生科/醫藥/農科培養】研究分析檢驗儀器設備_中文	2016/04/01
☄【土壤蔬果檢測計】日本暢銷_小農夫用_土讓液/肥沃pH_蔬菜水果硝酸鹽_中文	2015/09/04
☄【食品品質管理檢測計】 HORIBA_LAQUA_TWIN_實際應用_中文_全拓科技	2015/09/04
☄【農藥殘留分析套組】 PG Instrument_UV/VIS可見光光譜儀_中文	2015/09/04
☄【食品粉體粒徑】食品/飲料粒徑測試_HORIBA_中文	2015/10/20
☄【破碎機/恆溫振盪器/濃縮機/微生物/細菌監測】生科培養_全拓	2015/09/09
☄【總氮/蛋白質含量分析】 DUMAS燃燒法_凱氏定氮法_蒸餾機_消化分解爐-全拓	2015/09/09
☄【液態氮桶】生物樣本低溫儲存設備_中文-全拓科技	2015/09/04
☄【液態氮噴罐】小型液態氮罐＿不銹鋼噴灌_cryo_diffusion_cryoskin2_中文	2016/02/23
材料＆分析設備
☄【熱分析】熱分析儀_NETZSCH_熱重_熱示差_熱傳導_熱膨脹_熱機械_中文	2015/09/04
☄【熱分析】新型號_最新科技_節能窗U值_奈米鍍層熱傳導_中文	2016/10/07
☄【熱傳導-石墨紙】高溫機種1500 ℃氙氣燈源閃光法_中文	2015/09/04
☄【熱擴散-閃光法】閃光法熱擴散_比熱_熱膨脹密度_中文	2015/09/04
☄【SCHMIDT+HAENSCH】旋光/折射/色度/密度/糖度_中文	2016/04/01
☄【SCHMIDT+HAENSCH】線上監控型折射計_灰分/顏色/濁度/實驗室自動化	2016/10/07
☄【折射計】全自動多波長_色散_折射率_阿貝數_Schmidt+Haensch_中文	2015/08/19
☄【真空石墨爐】箱型高溫爐_中文	2016/07/07
☄【真空石墨爐】柱型昇降式高溫爐_中文	2016/07/07

超高CP值 UV/VIS分光光度計分光光譜儀

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全拓科技專業科學設備代理商

20年以上歷史完整專業服務團隊永續經營

材料/環境/食品/化學/化工/生物科技

英國 PG Instruments 分光光度計

PG Instruments 分光光度計，有數款不同機型及完整的配件可供使用者挑選

依樣本特性、用途、預算及功能要求做選擇，必定有適合您的機型

堅固耐用、高準確度及高性價比

別懷疑，PG Instruments 絕對是您採購分光光度計的優先選擇

T112+ 高端實驗專用

雙光束雙分光器，185 ~900 nm，PMT偵檢器。

波寬: 0.1 ~ 5.0 nm，0.1 nm step可調式。

吸收值範圍: -8.0 ~ +8.0 Abs，迷光 ≦ 0.0001%T。

適用研究、開發、材料分析，高階實驗室

T92+

雙光束，190 ~ 900 nm，PMT偵檢器。

波寬: 0.1 ~ 5.0 nm，0.1 nm step可調式。

吸收值範圍: -4.0 ~ +4.0 Abs，迷光 ≦ 0.01%T。

適用研究、開發、品管，高階實驗室

T80+ 雙光束經濟型

雙光束，190 ~ 1,100 nm。

波寬: 0.5、1.0、2.0、5.0 nm，可調式。

吸收值範圍: -0.3 ~ +3.0 Abs，迷光 ≦ 0.12%T。

八槽全自動切換樣本槽。

適用品保，一般實驗室

T70+ 單光束經濟型

單光束，190 ~ 1,00 nm。

波寬: 0.5、1.0、2.0、5.0 nm，可調式。

吸收值範圍: -0.3 ~ +3.0 Abs，迷光 ≦ 0.12%T。

八槽全自動切換樣本槽。

適用品保，一般實驗室

T60U 超經濟型

單光束，190 ~ 1,100 nm。T60V: 325 ~ 1,100 nm。

波寬: 2.0 nm。

吸收值範圍: -0.3 ~ +3.0 Abs，迷光 ≦ 0.05%T。

八槽全自動切換樣本槽。

適用大學部教學，簡單吸光值測定

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新北市中和區中正路716號123樓之3

與它牌DSC熱示差掃描量熱儀比較 DSC的不同之處

noreply@blogger.com (Anonymous) — Thu, 06 Oct 2016 01:58:00 +0000

德國NETZSCH高性能經濟型DSC

基線平坦度高，可達+/- 10uW
德國製造，品質保證，價格實惠，爐體及感測器使用壽命長不易損壞
採用高品質加熱線圈，樣品溫度可實際控制至600度
樣品室包覆式溫控，非底部控溫，可降低溫度梯度影響
樣品室無外露溫度棒，不易污染損壞
可連接UV光源，進行UV固化測量
可升級曲線全自動分析及圖庫比對功能
可升級TM-DSC調幅式量測
可同時連接機械式冷卻及LN2冷卻系統

產品比較

加熱線設計

NETZSCH DSC 3500全樣品室包覆加熱線，可確保樣品室均溫，不因溫度梯度影響測試

它牌僅由樣品室底部溫控，樣品室容易產升溫度梯度，影響測試

爐體設計

NETZSCH DSC 3500採用全實心銀製爐體，導熱快速均勻。降溫系統直接連接於實心爐體上，可快速、穩定的進行溫控，就算使用液態氮降溫也可維持極佳的基線穩定度

它牌採用cooling rod空心爐體，不利溫控，使用降溫系統容易產生基線不穩的問題

傳感器設計

NETZSCH DSC 3500採用全平面傳感器，無外露熱電偶，不需擔心爆盤污染損壞。傳感器可直接使用玻璃刷清潔，使用壽命長

它牌具有外露熱電偶，極易受到樣品污染，一旦污染需更換整組傳感器及爐體

降溫系統

NETZSCH DSC 3500可同時連接機械式冷卻及液態氮冷卻裝置，可依需要的溫度用軟體選擇適當的降溫系統，不需人工更換，兼顧穩定降溫及快速降溫的需求

它牌一次僅能安裝一種降溫系統，若要使用不同系統，使用者需自行更換，十分不便

UV光照系統

可加裝UV光源，進行UV固化分析

測量曲線全自動分析（選購）

使用曲線自動分析功能，使用者不需自行尋找Tg、Tm等反應位置，僅需執行自動分析，軟體即可自動標定並計算全部範圍之反應，降低人為誤差。強大的功能，甚至可匯入多條曲線一次完成分析，節省時間。

圖庫比對功能（選購）

一般在做未知物分析時，使用者需自行查詢文獻猜測可能的材質。使用全新的NETZSCH圖庫比對功能，軟體可自動將測完之曲線與內建或自建的資料庫比對，列出可能的材質與相似度。

自動分析與圖庫比對影片說明

德國NETZSCH DSC 3500 熱示差掃描量熱儀

規格：
溫度範圍：-170 ~ 600度（室溫以下需搭配低溫系統）
升降溫速率：0.001 ~ 100 K/min
測量範圍：+/- 600mW
熱焓準確度：<1%
銦金屬高寬比：> 100mW/K

*詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

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箱型/柱型_真空氣氛石墨爐_Graphite_Furnace_(Air_atmosphere)_日本Marusho-Denki

noreply@blogger.com (Anonymous) — Wed, 05 Oct 2016 07:15:00 +0000

真空氣氛石墨爐

Graphite Furnace (Air atmosphere) ........產地:日本 ........品牌:Marusho-Denki

實驗室箱型

1800℃ / 2400℃

柱型自動升降

1800℃ / 2400℃

官網介紹

U值節能窗快速熱傳透率 U-value 量測儀

noreply@blogger.com (Anonymous) — Wed, 05 Oct 2016 06:27:00 +0000

U值節能窗快速熱傳透率U-value量測儀

世界唯一快速節能窗U-value測量儀，採用兩件式設計，內建真空吸盤可吸附於節能窗內外兩面，一面提供熱源另一面量測升溫的溫度差，僅需20分鐘內即可獲得U-value。採用無線通訊傳輸測量結果，可遠距離接收測量數據。
小體積，容易攜帶並可量測節能窗各部位。測量快速，可於不同時段、溫度量測節能窗實際使用下的U值。

德國NETZSCH UgLass 節能窗熱傳透率U值量測儀

U值測量範圍：0.5 ~ 4 W/m^2K
量測重複性：U值小於1W/m^2K時為+/- 0.1W/m^2K，U值大於1W/m^2K時為+/- 10%
量測時間：10 ~ 20分鐘
溫控範圍：室溫 ~ 150度
儀器適用溫度範圍：-10 ~ 60度
採用無線傳輸測量結果，並可於量測過程中即時顯示讀值

介紹影片

建築熱傳透率U-value、熱阻值R-value量測儀

世界第一Heat flux熱流感測器製造商，使用兩組高感度熱流感測器及四組熱電偶，結合精密電壓量測系統，可量測建築物牆面熱流訊號，計算熱傳透率U-value及熱阻值R-value。搭配電腦及分析軟體可長時間監測建物牆面熱流。

Hukseflux TRSYS01建築熱傳透率U-value、熱阻值R-value量測儀

測量規範：ISO 9869, ASTM C1155 / C1046
可連接感測器數：2組(熱流感測器x2, 熱電偶x4)，可依需求增加
∆T量測方式：使用Type K熱電偶黏貼於內外牆
∆T精確度：0.1℃
熱流感測器：低熱阻高精度熱流感測器
熱流感測器量測範圍：+/- 2000 W/m^2
熱流感測器靈敏度：50 µV/Wm^2
熱流感測器追溯：NPL, ISO 8302 / ASTM C177
防水防塵等級：IP63

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現在就採購德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀,解決您的熱分析研究

noreply@blogger.com (Anonymous) — Wed, 05 Oct 2016 02:49:00 +0000

德國NETZSCH 奈米級熱膨脹分析儀

位移偵測解析度最高0.1nm（依機種而定），可檢測極小之長度變化量
樣品初始長度自動偵測，降低誤差
接觸力可數位程控，並可偵測實際施力大小，避免摩擦力影響
提供-180 ~ 2000℃多種溫度範圍爐體
可同時搭載兩種爐體
可抽真空、通氣氛
可升級雙桿偵測，同時量測兩個樣品
自動調整樣品位置，取得最佳量測狀態

NanoEye 奈米級光學位移偵測器

傳統熱膨脹量測設備採用LVDT位移偵測器，因設計上的限制，樣品長度與標準品長度差異在20%以內才能維持較佳的偵測精度，太長或太短的樣品變會產生較大的誤差，所以在樣品製備上有很大的限制。而部分產品採用傳統光學感測器則有解析度不高的缺點，無法提供高精度的測量。NETZSCH DIL 402 Expedis系列採用最新Moiré Pattern位移感測器，全測量範圍均可提供最高解析度，不受樣品與標準品長度差異影響，解析度依機種最高可達0.1nm，一次解決薄片、低膨脹率樣品不易量測的問題。
最高3N的數位施力控制，並具有施力感測器，可即時監控並控制實際施力大小。傳統熱膨脹設備僅透過彈簧調整施力，無法確實得知每個樣品的受力是否相同，容易造成測量誤差。NETZSCH DIL 402 Expedis的自動施力控制設計，亦可抵銷樣品與載台間的摩擦力，量測樣品真正的膨脹收縮率。
施力可程控，高階機種具多種施力模式，可模擬DMA分析

提供多種溫度範圍爐體

提供-180 ~500℃、-150 ~ 1000℃、RT~1150℃、RT~1600℃、RT~2000℃不同溫度段爐體選擇，使用者可依預算及應用選擇適合之爐體
可同時安裝兩個爐體，擴展溫度範圍或可增快測量速度

真空及氣氛控制

真空爐體設計，依搭配之真空幫浦最高可至10^-4mbar
內建一組MFC質量流量控制器，最多可擴充為3組

樣品位置自動調整及初始長度自動測量

獨特的樣品位置自動調整功能，在擺放樣品後，推桿會自動推擠樣品，調整至最佳量測位置，避免因樣品擺放不良影響測試
放置樣品後，可自動記錄樣品初始長度，確保量測之初始長度為啟始溫度下之長度值，避免膨脹率計算產生誤差
熱電偶可調整測量位置，確實控制樣品溫度

偵測室熱盾系統

熱盾系統可使偵測室保持恆溫，避免環境或爐體溫度擾動造成測量誤差

彩色資訊顯示，遠端APP監測

儀器具有彩色屏幕，可顯示儀器狀態
可下載手機APP，進行遠端監測，不需守候在儀器旁即可即時得知儀器狀態，並設有遠端異常通知及緊急停止功能

影片說明

*詳細資訊歡迎聯絡洽詢！！

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全新系列熱電材料熱分析設備，給您最精準、穩定的量測體驗

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 15 Jul 2016 06:30:00 +0000

完整熱電材料量測解決方案

熱分析第一品牌德國NETZSCH於今年推出全新Seebeck分析設備及全新系列熱電材料熱分析設備，給您最精準、穩定的量測體驗

NETZSCH SBA 458 Seebeck分析儀

溫度範圍：RT ~ 800℃，可設定無限段量測溫度
樣品尺寸：圓形樣品直徑12.7 ~ 25.4mm，方形樣品長12.7 ~ 25.4mm寬2 ~ 25.4mm，厚度小於2mm，樣品採平面放置，量測容易
量測參數：seebeck coefficient, electrical conductivity
適用氣氛：惰性、氧化、還原（2%H2)、真空
熱電偶具有保護鍍層，可避免樣品污染損壞。位置固定，無須量測熱電偶距離
具雙向溫度梯度加熱器，可正反向交互加熱，確認量測是否正確

NETZSCH LFA 467 閃光法熱傳導分析儀

溫度範圍：具兩種溫度段可選，-150 ~ 500℃ 或室溫 ~ 1500℃
三大神器：2MHz高速資料擷取、最短1mS量測時間、最小20µS超短脈衝時間，可量測超薄樣品
可抽真空、通氧化、惰性氣體
固體、粉體、高低黏度液體、熔融樣品、纖維、疊合、In-plane異向量測等，提供最齊全量測治具
提供超過20種計算模型，有效降低測量誤差
閃光法全球銷售第一品牌，市場占有率9成

NETZSCH DSC 214 智能型熱示差掃描量熱儀

精準Cp比熱測量
溫度範圍：-170 ~ 600℃ （室溫以下需搭配低溫系統）
升降溫速率最高500K/min
特殊劇場型3D溫控爐體，無傳統底部加熱DSC溫度不均問題
專利環形感測器，增加感應面積，量測更精準
專利底部內凹坩堝，可大幅提昇量測重複性，降低傳統坩堝底部容易變形造成的誤差，對於Cp量測可達更加的準確度
全自動分析軟體，可自動分析Tg、Tm、冷結晶等，不需人工判讀
資料庫圖譜比對功能，可自動判別樣品成分或與圖庫圖譜比對相似度
另提供1000℃以上機種，歡迎洽詢

NETZSCH DIL 402 Expedis 智能型熱膨脹分析儀

可量測密度隨溫度之變化
溫度範圍：具多種溫度段爐體可選，最高可達2000℃
專利NanoEye超高精度自動量測控制系統，可精準控制施力並即時記錄，可完全抵銷摩擦力影響。精密光學位移偵測器最大量測範圍可達25mm，全段解析度最高0.1nm
專利Multitouch樣品位置自動調整功能，確保樣品在最佳量測位置
資料庫圖譜比對功能，可自動判別樣品成分或與圖庫圖譜比對相似度
可選購雙推桿，同時進行兩個樣品測量
可選購雙爐體系統，安裝兩個爐體
可抽真空，通氧化、還原、惰性氣體

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石墨紙熱傳導量測要怎樣才能準確的測量？

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 15 Jul 2016 06:15:00 +0000

石墨紙熱傳導量測設備

石墨紙熱傳導量測是不是傷透你的腦？到底什麼設備才能準確的測量？
只有全拓科技給您最佳的量測解決方案！

石墨紙熱傳導完整量測方案

德國NETZSCH針對石墨紙熱傳導量測，推出一系列最佳的量測設備，為目前全球銷售第一的量測方案，也是唯一被真正認可的檢測方式

LFA 467 閃光法熱擴散分析儀

樣品製備最簡單，僅需1吋大小樣品即可測量
量測時間短，僅需1~5分鐘即可完成測量
準確度重複性高
儀器耗材少，使用壽命超長
全球銷售第一的量測設備，不需擔心數據受到質疑

DSC 214 比熱量測儀

全球唯一專利環形感測器，可大幅提昇量測感度
全球唯一專利劇場型全實心銀製爐體，具有極佳均溫性及控溫性，可達500℃/min超高升降溫速率
全球唯一專利微米內凹坩堝，可提高不同坩堝間的重複性
三大專力加持，比熱量測性能大躍進
提供4種不同重量藍寶石比熱標準品，可因應樣品重量提供最佳選擇
另具有全自動DSC曲線分析及圖庫比對功能，不需繁雜操作

DIL 402 Expedis 熱膨脹密度量測儀

石墨紙的熱傳量測最容易被忽略的參數即為溫度對密度的影響，在不同的溫度下，樣品會因膨脹、收縮，造成密度的改變，影響熱傳導數值。透過量測樣品的熱膨脹係數，才能得知正確的密度。若無法量測樣品隨溫度變化的正確密度，則無法量測正確的熱傳導
NETZSCH DIL 402 Expedis提供最高的量測解析度，是唯一可準確測量微米等級薄膜熱膨脹的量測設備

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【學產官研技術資訊】混和氣體吸附最佳量測技術資訊-全拓

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 15 Jul 2016 05:58:00 +0000

氣體分離技術

氣體分離技術是工業級氣體吸附處理中最普遍的應用，對於工業排放混合廢氣的潔淨與分離佔有十分重要的地位。瞭解混合氣體的吸附行為有助於設計更經濟有效的氣體分離吸附材料及技術。

圖一

純氣體吸附量測

氣體分離技術可依靠吸附材料對混合氣體內各氣體的吸附能力不同而達到分離的目的。我們可先量測吸附材料對個別氣體的吸附量，等溫吸附是目前最普遍的量測方式。上圖一為利用德國Rubotherm IsoSorp磁浮天平等溫吸附設備，在298K測量活性炭對CH4、CO2、N2至60bar的等溫吸附曲線。由圖中可觀察到活性炭對CO2相較於對CH4有較佳的吸附能力，可推斷活性炭可應用在CH4及CO2混合氣體的分離，但對CO2相較於N2則無顯著的差異，故無法作為CO2及N2混合氣體的分離使用。德國Rubotherm IsoSorp採用專利磁浮天平技術，可在高溫高壓下直接量測吸脫附材料的重量變化，不需透過壓力換算，可直接獲得準確的吸附量。

混合氣體吸附預測

得知純氣體的等溫吸附曲線後，我們便可利用理想氣體方程式預測混合氣體的吸附行為。Rubotherm提供的專用軟體，可依純氣體的等溫吸附曲線，計算混合後可能的吸附行為。但，我們應如何驗證預測的結果呢？

Rubotherm IsoSorp MIX 混合氣體吸脫附量測設備

Rubotherm在原本純氣體吸附設備基礎上，擴增精密的混合系統，以校正的氣體混合腔搭配HPLC幫浦循環混合並使用阿基米德氣體密度量測裝置精確量測氣體密度，以磁浮天平量測吸附材料的總吸附量，在搭配GC氣體分析系統量測各別氣體的含量。Rubotherm IsoSorp MIX可精確量測混合氣體在不同壓力、溫度及氣體混合比例下，吸附材料對個別氣體的吸附能力。

Rubotherm IsoSorp MIX量測流程說明影片：
http://www.rubotherm.de/video.html

量測結果

下圖為測量吸附材料對不同比例CH4/CO2混合氣體的等溫吸附曲線。可看出當CO2含量越高，吸附材料會選擇吸附CO2而對CH4的吸附量降低。

磁浮天平

磁浮天平為德國Rubotherm專利技術，使用磁力原理，可讓天平在完全密閉不接觸樣品的條件下，記錄樣品的重量變化。利用磁浮天平的特性，我們可將樣品置於高壓、高真空、高危險氣體、高腐蝕氣體、超臨界流體、蒸氣等傳統天平無法耐受的環境下進行高精度的重量分析。除此之外，使用者還可自由設計符合實驗需求的氣體、壓力及溫控控制系統，擴充性無限！

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RUBOTHERM》產品內容

高壓、高腐蝕熱重
高壓吸脫附
超快速比表面積
氣體自動導入

輕巧型元素分析儀-MESA-50全新軟體-日本HORIBA

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 15 Jul 2016 03:57:00 +0000

HORIBA MESA-50元素分析儀全新軟體

Horiba MESA-50推出全新介面軟體，更Smart！量測更快速！全自動判斷樣品量測參數，量測更精準！歡迎舊雨新知聯絡洽詢，預約demo

整合型視窗介面，資料庫管理模式

採用整合視窗介面，完整顯示不需切換畫面
各區域可自由調整位置，方便使用者操作
測量結果採資料庫管理，測量完成會自動儲存於設定之資料庫，方便管理

一鍵自動測量

使用者不需判斷材質，只需執行RoHS測量鍵，即可自動判定樣品材質並自動設定補償參數，降低誤操作造成的誤差

自動判斷測量時間

可依設定的允收值自動判斷樣品測量時間，可大幅增加量測速度

全新鐵材Cr補償

報告自動生成

可修正含鐵材料所造成的Cr誤差，提升量測精準度

全新報告模式，可自由編排欄位及排列方式
可直接於欄位輸入樣品資訊
可輸出PDF、EXCEL、Word

日本HORIBA MESA-50 元素分析儀 規格：元素範圍：Al ~ U
X光聚焦尺寸：𝟇1.2、3、7mm(可軟體切換）
RoHS元素：Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Cl, (可選購Sb, As)
鍍層厚度量測：可選購
偵測器：高感度SDD偵測器
外型尺寸：A4大小，W208 x D294 x H205 mm
樣品室尺寸：W190 x D225 x H40 mm
重量：12kg
電源：100 ~ 240V，內建鋰電池，最常待機時間2hr

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磁浮式重量分析儀-2016年新品奈米磁浮式TGA-德國Rubotherm

noreply@blogger.com (Anonymous) — Fri, 15 Jul 2016 03:53:00 +0000

德國Rubotherm磁浮式重量分析儀

德國Rubotherm開發的磁浮式重量分析儀，可在極限的條件記錄樣品的重量變化。舉凡100bar高壓、超高真空、-196度低溫、腐蝕性氣體、可燃性氣體、超臨界流體、氣體儲存、捕捉等各種條件與研究，均可進行高精度與長時間的測量。
磁浮式重量分析儀可讓研究人員自由搭配反應槽、溫度控制、壓力與流量控制系統，滿足各種應用需求。Rubotherm更進一步研發可達0.01µg解析度機種，給您最精準的量測結果。

磁浮式重量分析儀結構

天平室與樣品室完全隔絕，利用磁力與樣品支架連結秤重
具樣品支架位置感知系統，可精準控制磁浮位置
搭配特殊decoupling裝置，可於量測過程中全時自動歸零與校正，因而可確保長時間量測的精準度
可加裝氣體浮力量測裝置，測量過程中同步精準測量樣品室內浮力，即時扣除浮力影響

特殊Decoupling全時自動校正系統

磁浮式重力量測裝置利用樣品支架位置感應器與decoupling裝置，可設定在測量過程中定時進行歸零，避免長時間測量產生的飄移
左圖顯示在測量樣品時，會加大磁力將樣品吊起測量。而右圖則為歸零狀態，會減弱磁力將樣品脫離，歸零完後再將樣品吊起

提供多種規格配件，亦可客製或自行改裝

多種壓力樣品槽

自動進氣流量與壓力控制系統

高、低溫控制系統

奈米級磁浮重量量測裝置，解析度最高0.01 µg

2016年新品奈米磁浮式TGA

DynthermNano

秤重量：1000mg / 100mg
解析度：0.1µg / 0.01µg
溫度：室溫 ~ 1100℃，升降溫速率300 K/min
適用壓力範圍：UHV ~ 8MPa
適用氣氛：惰性氣體、氧化氣體、可燃性氣體、腐蝕性氣體、蒸氣等

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micro-XRF元素掃描成像儀-日本HORIBA

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日本HORIBA micro-XRF元素掃描成像儀

專利10µm X光聚焦導管

可將X光聚焦至10µm，針對微小的區域測量元素，並可在元素面積掃描時提供最佳的成像解析度

100X放大CCD鏡頭

可透過電腦螢幕直接觀看，確認測量位置。並可直接點選要檢測的位置，樣品會自動移動至定位

大樣品室，樣品不需裁切破壞

真空設計，感度最佳

450 x 500 x 80mm大樣品室空間，下潛式艙門，樣品擺放容易。

樣品室可抽真空，提高偵測感度。若需測量粉體或液體，也可獨立抽光學室真空，避免樣品室污染

Smart元素掃描成像

同步X光穿透影像

XGT-7200V可設定範圍進行掃描，掃描完成後可呈現各元素的分布圖，並可計算掃描面積內各元素的含量

可於元素面積掃描成像時，同步成像X光穿透影像，輔助分析研究

SDD高感度偵測器

友善導引操作介面

採用新一代高感度SDD偵測器，大幅提升偵測感度，免液態氮

智慧導引操作介面，操作容易

日本HORIBA XGT-7200V µXRF元素掃描成像儀規格：元素範圍：Na ~ U
X光聚焦尺寸：𝟇10、100µm(可軟體切換）
最大掃描面積：10 x 10 cm
樣品室尺寸：450 x 500 x 80 mm

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Cryo-CLEM 顯微鏡冷凍控制系統

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光學、電子顯微鏡整合系統（Correlative Light and Electron Microscope, CLEM）

顯微加熱平台
近期十分重要的檢測利器

英國LINKAM身為全球第一大的顯微鏡溫控系統製造商，特別與荷蘭萊頓大學醫學中心 (Leiden University Medical Centre)合作開發CLEM專用的冷凍控制系統。

英國LINKAM CMS196 Cryo-CLEM冷凍控制系統

內建冷凍樣品監測功能，可自動補充樣品室液態氮維持-196℃，使樣品保持玻璃化冷凍狀態，並可避免污染
可長時間維持高穩定度
內建自動XY移動載台，具高精度光學編碼，可進行1µm精準移動控制並可執行自動mapping
適用各大廠牌顯微鏡
磁力對準式樣品座，可一次放置三組樣品，可安全、無污染的進行樣品放置、儲存及傳送
適用NA 0.9的螢光物鏡
內建液態氮儲存槽，可不需外接液態氮桶連續使用35分鐘，若連接3L儲存桶可連續使用一天
內建LCD液晶顯示及單機操作按鍵，並可連接電腦使用軟體操作
可自動執行水氣排除
為世界第一Cryo-CLEM設備

相關連結

CMS196應用資料一

CMS196應用資料二

CMS196 自動mapping影片展示

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顯微鏡、拉曼用高壓高溫微型觸媒反應器

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顯微鏡、拉曼用高壓高溫微型觸媒反應器

顯微鏡溫控平台第一大廠英國LINKAM針對觸媒研究，

開發可用於顯微鏡、拉曼光譜儀等光學儀器的微型溫控高壓反應器CCR1000，

在反應的同時，可進行顯微影像或是拉曼光譜的記錄量測。

CCR1000高壓微型觸媒反應器

最高可至1000℃，並具有200℃/min的快速升溫能力，壓力最高可達5bar。
樣品載台採用可拆卸氧化鋁管及拋棄式氧化鋁纖維濾膜，方便裝、卸載樣品。


抗腐蝕耐高壓設計與樣品及氣體接觸之元件均採用抗腐蝕材料，適用大部分高腐蝕性氣體。高導熱氣體（He, H2)亦可使用。	樣品裝、卸載方便採用抗腐蝕氧化鋁樣品管，可輕易取出裝卸樣品


陶瓷纖維濾膜氧化鋁管內安裝可拋棄式氧化鋁纖維濾膜，可使氣體流過樣品，增加反應面積	可更換視窗可依照儀器波長，更換適用的視窗材質

英國LINKAM CCR1000 高壓微型觸媒反應器

控溫範圍：室溫 ~ 1000℃
升溫速率：1 ~ 200℃/min
溫度穩定度：1℃
壓力範圍：最高可至5bar(使用石英視窗）
樣品量：70 ~ 100mg
物鏡適用工作距離：6mm
具水循環設計，避免本體過熱
可安裝於各大廠牌顯微鏡

相關連結

應用資料一	應用資料二
流體化床應用	流體化床使用影片

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奈米鍍層熱擴散最佳分析利器-奈秒/皮秒超快速雷射熱擴散-德國NETZSCH

noreply@blogger.com (Anonymous) — Tue, 12 Jul 2016 09:59:00 +0000

德國NETZSCH 奈米鍍層熱擴散量測儀

日本產業技術綜合研究所開發，採用高速雷射量測，最薄可量測至10nm鍍層，為奈米鍍層熱擴散最佳分析利器

採用皮、奈秒雷射thermoreflectance量測原理，突破雷射閃光法熱擴散量測限制

傳統閃光法使用IR偵測器，無法記錄足夠微小及快速的溫度變化訊號，因而無法量測太薄的樣品。thermoreflectance法則使用奈秒或皮秒雷射進行量測，雷射在樣品表面反射後，會隨樣品表面溫度變化而改變反射的強度，因而可用來快速記錄樣品表面極小與極快的溫度變化

內建兩種量測模式，可依底材特性選擇

RF法：與laser flash閃光法量測方式相同，適於透光底材的鍍層量測。RF法為由底材端施以一脈衝雷射對鍍層加熱，並從鍍層端以奈秒或皮秒雷射測量鍍層表面的溫度變化
FF法：適於不透光底材鍍層測量。由鍍層表面施以一脈衝雷射加熱，並對同一位置以奈秒或皮秒雷射量測鍍層表面的溫度變化

NanoTR 奈秒雷射熱擴散量測儀

1. 適用鍍層厚度
RF法

金屬鍍層：1 ~ 20um
陶瓷鍍層：300nm ~ 5um
有機材鍍層：30nm ~ 2um

FF法

鍍層厚度需大於1um

2. 量測時間：小於60秒
3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，
總厚度需小於1mm

PicoTR皮秒雷射熱擴散量測儀

1. 適用鍍層厚度
RF法

金屬鍍層：100 ~ 900nm
陶瓷鍍層：10nm ~ 300nm
有機材鍍層：10nm ~ 100nm

FF法

鍍層厚度需大於100nm

2. 量測時間：小於5分鐘
3. 樣品大小：10x10 ~ 20x20mm，
總厚度需小於1mm

量測原理論文

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